<?xml version='1.0' encoding='utf-8'?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.2 20190208//EN" "http://jats.nlm.nih.gov/publishing/1.2/JATS-journalpublishing1.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.2" xml:lang="ru" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="issn">2518-1092</journal-id><journal-title-group><journal-title>Научный результат. Информационные технологии</journal-title></journal-title-group><issn pub-type="epub">2518-1092</issn></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.18413/2518-1092-2017-2-2-3-8</article-id><article-id pub-id-type="publisher-id">1126</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ И УПРАВЛЕНИЕ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>ОБОСНОВАНИЕ НЕОБХОДИМОСТИ СОВМЕСТНОГО ПРИМЕНЕНИЯ АВТОМАТИЧЕСКОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ИНСПЕКЦИИ И НЕРАЗРУШАЮЩЕГО РЕНТГЕНОВСКОГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>JUSTIFICATION FOR NEED OF COMBINED USE OF AUTOMATIC OPTICAL INSPECTION AND NON-DESTRUCTIVE X-RAY CONTROL OF ELECTRONIC MODULES</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Осипенко</surname><given-names>Анна Александровна</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Osipenko</surname><given-names>Anna Alexandrovna</given-names></name></name-alternatives><email>rijaya_oska@rambler.ru</email></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Игнатенкова</surname><given-names>Олеся Александровна</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Ignatenkova</surname><given-names>Olesya Aleksandrovna</given-names></name></name-alternatives><email>olesya_ignatenko@mail.ru</email></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Григоров</surname><given-names>Михаил Сергеевич</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Grigorov</surname><given-names>Mikhail Sergeevich</given-names></name></name-alternatives><email>gms.orel@mail.ru</email></contrib><contrib contrib-type="author"><name-alternatives><name xml:lang="ru"><surname>Басов</surname><given-names>Олег Олегович</given-names></name><name xml:lang="en"><surname>Basov</surname><given-names>Oleg Olegovich</given-names></name></name-alternatives><email>oobasov@mail.ru</email></contrib></contrib-group><pub-date pub-type="epub"><year>2017</year></pub-date><volume>2</volume><issue>2</issue><fpage>0</fpage><lpage>0</lpage><self-uri content-type="pdf" xlink:href="/media/information/2017/2/IT_1.pdf" /><abstract xml:lang="ru"><p>В работе представлен результат анализа принципов и частично методов контроля качества электронных модулей и их функциональных элементов на разных этапах их производства и эксплуатации. Систематизированы типы дефектов, выявляемые с помощью автоматической оптической инспекции и неразрушающего рентгеновского контроля. Приведены результаты анализа существующего уровня техники в области автоматической оптической инспекции и неразрушающего рентгеновского контроля дефектов электронных модулей. Определены возможности систем, сочетающих данные методы, и, в частности, подсистемы программного обеспечения, а также направления совершенствования алгоритмического и программного обеспечения этих систем в условиях возрастания сложности и неоднородности контролируемых изделий.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The result of analysis of the principles and methods in part of quality control of electronic modules and their functional elements at different stages of their production and operation is provided in this paper. The defect types revealed by means of automatic optical inspection and non-destructive X-ray control are systematized. The result of analysis of the existing technique level in the field of automatic optical inspection and non-destructive X-ray control of defects of electronic modules are given. The possibilities of the systems combining these methods, and, in particular, software subsystems, and also the direction of enhancement of knoware and the software of these systems in the conditions of increase of complexity and non-uniformity of controlled products are defined.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>электронный модуль</kwd><kwd>оптическая инспекция</kwd><kwd>неразрушающий рентгеновский контроль</kwd><kwd>алгоритмическое и программное обеспечение</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>electronic module</kwd><kwd>optical inspection</kwd><kwd>non-destructive X-ray control</kwd><kwd>knoware and software</kwd></kwd-group></article-meta></front><back /></article>